一、温度冲击箱冷热冲击试验箱概述: 用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。
使用范围: 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
 精密参数: 型 号 | COK-50 | COK-80 | COK-150 | COK-252 | COK-50 | COK-80 | COK-150 | COK-252 | 温度冲击范围 | -40~+150℃ | -55~+150℃ | ■ 性能 | 试验方式 | 气动风门切换 2 温室或 3 温室方式 | 高温室 | 预热温度范围 | 60 ~ + 200 ℃ | 升温速率 | RT. → + 200 ℃ 约 3 5 分钟 | 低温室 | 预冷温度范围 | -55 ~ -10 ℃ | -65 ~ -10 ℃ | 降温速率 | + 20 → -55 ℃ 约 6 0 分钟 | + 20 →- 65 ℃ 约 7 0 分钟 | 试验室温度范围 | -40 - +150 ℃ | -55 - +150 ℃ | 温度偏差 | ±2 ℃ | 温度恢复时间 | 5 分钟以内 | 恢复条件 | 高温曝露 | 低温曝露 | 高温曝露 | 低温曝露 | 150 ℃:30 分钟 | -40 ℃:30 分钟 | 150 ℃:30 分钟 | -55 ℃:30 分钟 | ※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能; 2. 恢复条件:室温为+ 20 ℃。 |
原理: 三箱式冷热冲击试验箱分为高温区,低温区,测试区,通过高温和低温的影响,对安置在测试区的产品,进行极冷极热试验,以检测产品的耐环境属性。
 二、温度冲击箱冷热冲击试验箱用途: 冷热冲击试验箱主要用于测试零部件、材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。该产品即适用于质量控制的实验室,确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性,又可满足生产过程中筛选商用产品。适用的对象包括金属,塑料,橡胶,电子……等材料,可作为其产品改进的依据或参考。 技术参数规格型号 : COK-50-3H\COK-80-3H\ COK-100-3H\COK-150-3H\ COK-250-3H 内部尺寸 HxD(cm) 50L:36×35×40 80L:50×40×40 100L:60×40×40 150L:60×50×50 250L:70×60×60 外部尺寸HxD(cm) 50L:156*175*144 80L:170*180*144 100L:180*180*144 150L:180*190*154 250L:190*200*164 温度范围:低温(F:-40;X:-55;S:-65)~高温+150℃ 高温区:+60℃~+200℃ 低温区:-10℃~-75℃; 升温时间(蓄热区) :RT~200℃约需35min 降温时间(蓄冷区) :RT~-70℃约需85min 温度恢复时间/转换时间: ≤5min内 / ≤10sec内 温度控制精度/分布精度: ±0.5℃ / ±2.0℃
 产品特点: 1.冷热冲击试验箱(三箱)的三箱设备区分为:高温区、低温区、测试区三部分,2.测试产品置于测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。 3.采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器,操作简单、学习容易。 4.温度控制精度高,全部采用PID自动演算控制。 5.冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区,做冷热冲击测试。 6.高温冲击或低温冲击时,大时间可达999H,大循环周期可达9999次。 7.系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。 8.冷却采二元冷冻系统,降温效果快速,冷却方式为水冷式。 9.试料槽*静止,可由测试孔外加负载配线。 10.蓄热方式可避免使用职业伤害。(注:液态气体所产生发气,吸入肺部致使肺部氧气量减少, 而产生工作倦怠,集中力降低)。 11.可选择始动位置,高温或低温开始循环。 12.具有预约起动功能。 13.可设定循环次数及自动除霜。 14.可设定循环次数及除霜次数自动(手动)除霜。运转中状态显示及曲线,异常及故障点显示说明及排除方法。 15.有异常或故障显示及排除方法说明。 16.欧美原装高效率复叠压缩冷冻机组,运转噪音低,省能源之设备 17.多重保护装置,有效的保障系统的安全可靠运行 |